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Nr. Cover Titel Verfasser Jahr Beschreibung Exemplarinformation
1 Advanced interconnects for ULSI technology Advanced interconnects for ULSI technology [Buch]   2012 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: ZN 4952 B168.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
2 Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections [E-Book] Tan, Cher Ming 2011 E-Book URL Exists Catalogue Record .
3 Epitaktisches CoSi 2 als Leitbahn- und Kontaktmaterial für grossintegrierte Schaltungen [Hochschulschriften] Adamski, Christian 1990 Hochschulschriften Regalstandort: 28 553/1.
Lit.abteilungen: Magazin.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
4 Thin films of Copper oxide and Copper grown by atomic layer deposition for applications in metallization systems of microelectronic devices Thin films of Copper oxide and Copper grown by atomic layer deposition for applications in metallization systems of microelectronic devices [Buch] Wächtler, Thomas 2010 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UP 7550 W126.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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