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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 279525001 Buchausg. u.d.T.: ‡Emerging nanotechnologies
ISBN 978-0-387-74746-0
Name Tehranipoor, Mohammad
T I T E L Emerging Nanotechnologies
Zusatz zum Titel Test, Defect Tolerance, and Reliability
Verlagsort Boston, MA
Verlag Springer Science+Business Media, LLC
Erscheinungsjahr 2008
2008
Umfang Online-Ressource (digital)
Reihe Frontiers in Electronic Testing ; 37
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt Front Matter; Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits; Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics; Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices; A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology; Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures; Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design; Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems; QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing. Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular AutomataTest Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems; Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips; Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields; Towards Nanoelectronics Processor Architectures; Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems; Back Matter
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Emerging nanotechnologies
ISBN ISBN 978-0-387-74747-7
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815
620.5
620
TK7888.4
ZN 3700
Kurzbeschreibung Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
1. Schlagwortkette Nanotechnologie
Nanoelektronik
Biochip
Mikrofluidik
Zellularer Automat
Nanometerbereich
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2. Schlagwortkette Nanotechnologie
Nanoelektronik
Biochip
Mikrofluidik
Zellularer Automat
Nanometerbereich
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SWB-Titel-Idn 28057584X
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Cover
Siehe auch Inhaltsverzeichnis
Siehe auch Kapitel 1
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