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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach

Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 272348694 Buchausg. u.d.T.: ‡Orshansky, Michael: Design for manufacturability and statistical design
ISBN 978-0-387-30928-6
Name Orshansky, Michael
Boning, Duane
Name ANZEIGE DER KETTE Boning, Duane
Name Nassif, Sani R.
T I T E L Design for Manufacturability and Statistical Design
Zusatz zum Titel A Constructive Approach
Verlagsort Boston, MA
Verlag Springer Science+Business Media, LLC
Erscheinungsjahr 2008
2008
Umfang Online-Ressource (digital)
Reihe SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Orshansky, Michael: Design for manufacturability and statistical design
ISBN ISBN 978-0-387-69011-7
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815
670
TK7888.4
ZN 4900
Kurzbeschreibung Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach provides a thorough treatment of the causes of variability, methods for statistical data characterization, and techniques for modeling, analysis, and optimization of integrated circuits to improve yield. The objective of the constructive approach developed in this book is to formulate a consistent set of methods and principles necessary for rigorous statistical design and design for manufacturability from device physics to large-scale circuit optimization. The segments of the book are devoted, respectively, to understanding the causes of variability, design of test structures for variability characterization, statistically rigorous data analysis, techniques of design for manufacturability in lithography and in chemical mechanical polishing, statistical simulation, analysis, and optimization techniques for improving parametric yield. Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach presents an overview of the methods that need to be mastered for state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. It is an important reference for practitioners and students in the field of computer-aided design of integrated circuits.
1. Schlagwortkette CMOS
Integrierte Schaltung
Fertigung
Fertigungsmesstechnik
ANZEIGE DER KETTE CMOS -- Integrierte Schaltung -- Fertigung -- Fertigungsmesstechnik
2. Schlagwortkette CMOS
Integrierte Schaltung
Fertigung
Fertigungsmesstechnik
ANZEIGE DER KETTE CMOS -- Integrierte Schaltung -- Fertigung -- Fertigungsmesstechnik
SWB-Titel-Idn 276330854
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69011-7
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Cover
Siehe auch Inhaltsverzeichnis
Siehe auch Kapitel 1
Siehe auch Einführung/Vorwort
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