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Nanotechnology and Nanoelectronics: Materials, Devices, Measurement Techniques

Nanotechnology and Nanoelectronics: Materials, Devices, Measurement Techniques
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 113434359 Buchausg. u.d.T.: ‡Nanotechnology and nanoelectronics
ISBN 978-3-540-22452-5
Name Fahrner, Wolfgang
T I T E L Nanotechnology and Nanoelectronics
Zusatz zum Titel Materials, Devices, Measurement Techniques
Verlagsort Berlin, Heidelberg
Verlag Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Erscheinungsjahr 2005
2005
Umfang Online-Ressource (XVI, 269 p. 218 illus, digital)
Reihe SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten Introduction
Weiterer Inhalt Preliminaries; Preface; Contents; 1 Historical Development; 2 Quantum Mechanical Aspects; 3 Nanodefects; 4 Nanolayers; 5 Nanoparticles; 6 Selected Solid States with Nanocrystalline Structures; 7 Nanostructuring; 8 Extension of Conventional Devices by Nanotechniques; 9 Innovative Electronic Devices Based on Nanostructures; References; Index
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Nanotechnology and nanoelectronics
ISBN ISBN 978-3-540-26621-1
Klassifikation TEC008070
TJF
TEC008000
620.5
620/.5
621.381
530
TK7800-8360
TK7874-7874.9
ZN 3700
Kurzbeschreibung This book provides a concise and didactically structured presentation of nanotechnology as matters stand. Both students and engineers can gain valuable insights into the historical development, production, and characterization procedures of structures in the nanometer range, their electrical applications, measuring procedures for the determination of nanodefect, nanolayer, and nanoparticle characteristics, and the major techniques of preparation in nanotechnology. Based on known facts, an evaluation of nanotechnology, its further development, and its future prospects are attempted.
2. Kurzbeschreibung This book provides a concise and didactically structured presentation of nanotechnology as matters stand. Both students and engineers can gain valuable insights into the historical development, production, and characterization procedures of structures in the nanometer range, their electrical applications, measuring procedures for the determination of nanodefect, nanolayer, and nanoparticle characteristics, and the major techniques of preparation in nanotechnology. Based on known facts, an evaluation of nanotechnology, its further development, and its future prospects are attempted
1. Schlagwortkette Nanotechnologie
ANZEIGE DER KETTE Nanotechnologie
2. Schlagwortkette Nanoelektronik
ANZEIGE DER KETTE Nanoelektronik
3. Schlagwortkette Nanotechnologie
ANZEIGE DER KETTE Nanotechnologie
4. Schlagwortkette Nanoelektronik
ANZEIGE DER KETTE Nanoelektronik
SWB-Titel-Idn 264345924
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/b137771
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Cover
Kataloginformation500114537 Datensatzanfang . Kataloginformation500114537 Seitenanfang .
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