Shortcuts
Bitte warten Sie, bis die Seite geladen ist.
 
PageMenu- Hauptmenü-
Page content

Katalogdatenanzeige

Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for low emission and susceptibility

Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for low emission and susceptibility
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 251896781 Buchausg. u.d.T.: ‡Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
ISBN 978-0-387-26600-8
Name Ben Dhia, Sonia
Ramdani, Mohamed
Name ANZEIGE DER KETTE Ramdani, Mohamed
Name Sicard, Etienne
T I T E L Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
Zusatz zum Titel Techniques for low emission and susceptibility
Verlagsort Boston, MA
Verlag Springer Science+Business Media, Inc
Erscheinungsjahr 2006
2006
Umfang Online-Ressource (XIV, 474p. 464 illus, digital)
Reihe SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt Basic Concepts in EMC for ICs; Historical Review and State-of-the art; Fundamentals and Theory; Measurement Methods; EMC Modeling; Case Studies; Guidelines
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
ISBN ISBN 978-0-387-26601-5
Klassifikation TEC030000
TJFN
TEC024000
621.3
621.38224
621.382/24
530
TK7876-7876.42
ZN 4050
Kurzbeschreibung Basic Concepts in EMC for ICs -- Historical Review and State-of-the art -- Fundamentals and Theory -- Measurement Methods -- EMC Modeling -- Case Studies -- Guidelines.
2. Kurzbeschreibung Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for Low Emission and Susceptibility focuses on the electromagnetic compatibility of integrated circuits. The basic concepts, theory, and an extensive historical review of integrated circuit emission and susceptibility are provided. Standardized measurement methods are detailed through various case studies. EMC models for the core, I/Os, supply network, and packaging are described with applications to conducted switching noise, signal integrity, near-field and radiated noise. Case studies from different companies and research laboratories are presented with in-depth descriptions of the ICs, test set-ups, and comparisons between measurements and simulations. Specific guidelines for achieving low emission and susceptibility derived from the experience of EMC experts are presented.
1. Schlagwortkette Elektromagnetische Verträglichkeit
Integrierte Schaltung
SWB-Titel-Idn 264333969
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/b137864
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Kapitel 2
Siehe auch Cover
.
ISBD-Anzeige Katalogdatensatz500114155
.
Kategorien-Anzeige Katalogdatensatz500114155
.
Verwandte Werke Katalogdatensatz500114155
.
Titel zur Titelsammlung hinzufügen Katalogdatensatz500114155
.
Kataloginformation500114155 Datensatzanfang . Kataloginformation500114155 Seitenanfang .
Titel vormerken Katalogdatensatz500114155
Vollanzeige Katalogdaten 

Auf diesem Bildschirm erhalten Sie Katalog- und Exemplarinformationen zum ausgewählten Titel.

Im Bereich Kataloginformation werden die bibliographischen Details angezeigt. Per Klick auf Hyperlink-Begriffe wie Schlagwörter, Autoren, Reihen, Körperschaften und Klassifikationen können Sie sich weitere Titel des gewählten Begriffes anzeigen lassen.

Der Bereich Exemplarinformationen enthält zum einen Angaben über den Standort und die Verfügbarkeit der Exemplare. Zum anderen haben Sie die Möglichkeit, ausgeliehene Exemplare vorzumerken oder Exemplare aus dem Magazin zu bestellen.
Schnellsuche