- Hauptmenü-

Kategorienanzeige

MAB

IEEE design & test of computers: D & T
Kategorie	Beschreibung
036a	XD-US
037b	eng
077a	015904156 Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test of computers
077g	381815749 Forts: ‡Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test
200	Institute of Electrical and Electronics Engineers ¬[VerfasserIn]¬
331	IEEE design & test of computers
335	D & T
370a	Design & test of computers
370a	Design and test of computers
370a	D & T
370a	D and T
410	Los Alamitos, Calif.
412	Soc.
425	1984-2012
425b	1984
425c	2012
433	Online-Ressource
501	Gesehen am 07.03.19
527z	zdb/605391-9 Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test of computers
533z	zdb/2714080-5 Forts: ‡Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test
542a	ISSN 1558-1918
542c	ISSN 0740-7475
700b	\|004
902s	209574836 Datenverarbeitungssystem
902s	209907495 Leistungsbewertung
902s	20917000X Zeitschrift
902s	213199033 Online-Ressource
907s	211692794 Testen
907s	20917000X Zeitschrift
907s	213199033 Online-Ressource
912s	211692794 Testen
912s	20917000X Zeitschrift
917s	209574836 Datenverarbeitungssystem
917s	209907495 Leistungsbewertung
917s	20917000X Zeitschrift
922s	208892052 Datenverarbeitung
922s	20917000X Zeitschrift
927s	209179244 Computer
927s	209541369 Entwurf
927s	20917000X Zeitschrift
012	094080852
081	Institute of Electrical and Electronics Engineers: IEEE design & test of computers
125b	IEEE Electronic Library (IEL) Fachhochschulkonsortium
200	$b1.1984,1 - 29.2012,4
655e	$uhttps://ezb.ur.de/detail.phtml?bibid=WHZ&jour_id=1282$xEZB
655e	$uhttps://ezb.ur.de/ReadMe?bibid=WHZ&owner=IEE&anchor=IEEE&lang=de$xReadme
655e	$uhttps://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=54$xVolltext