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MAB

Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Kategorie	Beschreibung
036a	XA-NL
037b	eng
077a	273570250 Buchausg. u.d.T.: ‡Chiang, Charles C: Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
087q	978-1-4020-5187-6
100b	Chiang, Charles C
104b	Kawa, Jamil
331	Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
410	Dordrecht
412	Springer Netherlands
425	2007
425a	2007
433	Online-Ressource (digital)
451b	Series on Integrated Circuits and Systems
527	Buchausg. u.d.T.: ‡Chiang, Charles C: Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
540a	ISBN 978-1-4020-5188-3
700	\|TJFC
700	\|TEC008010
700b	\|621.3815
700c	\|TK7888.4
700g	1271498537 ZN 4960
902s	211146684 Entwurfsautomation
902s	20976211X CMOS-Schaltung
902s	21128209X Nanometerbereich
902s	209957425 Fotolithografie <Halbleitertechnologie>
902s	211758272 Ertragssteigerung
902f	00000129 Online-Publikation
012	267485042
081	Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
100	Springer E-Book
125a	Elektronischer Volltext - Campuslizenz
655e	$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3