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MAB
Elektronenmikroskopie: Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Kategorie
Beschreibung
036a
XA-DE‡XA-GB
037b
ger
100
Flegler, Stanley L.
104a
Heckman, John W.
108a
Klomparens, Karen L.
303t
$tScanning and transmission electron microscopy <dt.>
331
Elektronenmikroskopie
335
Grundlagen, Methoden, Anwendungen
410
Heidelberg ; Berlin [u.a.]
412
Spektrum, Akad. Verl.
425
1995
425a
1995
433
VIII, 279 S. : Ill., graph. Darst.
501
Literaturangaben
517
Literaturangaben
540a
ISBN 3-86025-341-7
700d
|29
700d
|32
700g
1271575086 ZM 8150
700g
1270714988 UH 6300
700g
1271516969 ZM 3700
700g
1271535939 WC 3100
700g
1271493233 UH 5000
902s
208907351 Elektronenmikroskopie
907s
208907351 Elektronenmikroskopie
912s
208907351 Elektronenmikroskopie
912s
209056983 Optik
012
046720707
081
Flegler, Stanley L. <P>: Scanning and transmission electron microscopy<dt.>
100
39 251
107
UH 6300 F593
125a
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