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MAB

Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications
Kategorie	Beschreibung
036a	XA-DE‡XD-US‡XA-CH
037b	eng
100	Fuchs, Ekkehard
104a	Oppolzer, Helmut
108a	Rehme, Hans
331	Particle beam microanalysis
335	fundamentals, methods and applications
410	Weinheim [u.a.]
412	VCH
425	1990
425a	1990
433	XVIII, 507 S. : Ill., graph. Darst.
501	Literaturangaben
540a	ISBN 3-527-26884-7
540a	ISBN 0-89573-505-9
700b	\|620.1/127
700d	\|29
700d	\|30
700g	1271679027 UX 1380
700g	1271568454 UH 6200
902s	20920477X Sekundärionen-Massenspektrometrie
907s	208907351 Elektronenmikroskopie
912s	209617012 Elektronenstrahltesten
917s	209791241 Elektronenstrahlmikroanalyse
922s	20920477X Sekundärionen-Massenspektrometrie
927s	208907351 Elektronenmikroskopie
932s	209617012 Elektronenstrahltesten
937s	209791241 Elektronenstrahlmikroanalyse
012	023275324
081	Fuchs, Ekkehard <P>: Particle beam microanalysis
100	33 446
107	UX 1380 F951
125a	Sei