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Kategorienanzeige
MAB
Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
Kategorie
Beschreibung
036a
XA-DE
037b
ger
100
Schaefer, Wolfgang
104a
Schäfer, Wolfgang
108a
Terlecki, Georg
331
Halbleiterprüfung
335
Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
410
Heidelberg
412
Hüthig
425
1986
425a
1986
433
259 S. : Ill., graph. Darst.
501
Literaturangaben
540a
ISBN 3-7785-1007-X
700d
|37
700g
1271528835 ZN 4030
700g
1271493233 UH 5000
700g
1271478277 UH 6700
902s
208946993 Halbleiter
902s
209075589 Qualitätskontrolle
902s
20903419X Mikroskopie
907s
208946993 Halbleiter
907s
209075589 Qualitätskontrolle
907s
209077956 Rasterelektronenmikroskopie
912s
20903419X Mikroskopie
912s
208946993 Halbleiter
912s
209075589 Qualitätskontrolle
917s
209077956 Rasterelektronenmikroskopie
917s
208946993 Halbleiter
917s
209075589 Qualitätskontrolle
012
012534218
081
Schäfer, Wolfgang <P>: Halbleiterprüfung
100
23 058
107
ZN 4030 S294
125a
sto
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