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Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS: mit 29 Tabellen
Kategorie	Beschreibung
036a	XA-DE‡XD-US
037b	ger
100	Grasserbauer, Manfred ¬[VerfasserIn]¬
104a	Dudek, Hans J. ¬[VerfasserIn]¬
108a	Ebel, Maria F. ¬[VerfasserIn]¬
331	Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
335	mit 29 Tabellen
410	Berlin ; Heidelberg [u.a.]
412	Springer
425	1986
425a	1986
433	VIII, 300 Seiten : Illustrationen
435	25 cm
501	Literaturangaben
540a	ISBN 3-540-15050-1
540a	ISBN 0-387-15050-1
700b	\|541.3/453
700c	\|QD506
700d	\|29
700d	\|42
700g	1271603373 ZM 7605
700g	1271480220 UP 7500
902s	20920477X Sekundärionen-Massenspektrometrie
907s	209554681 Auger-Spektroskopie
912s	209202904 Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
012	011821299
081	Grasserbauer, Manfred: Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
100	26 512
107	UP 7500 G768
125a	gro