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Nr. Cover Titel Verfasser Jahr Beschreibung Exemplarinformation
1 Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [E-Book]   2007 E-Book URL Exists Catalogue Record .
2 Methode zur Erzeugung eines erweiterten Konformitätstests für Kommunikationsprotokolle am Beispiel der ISO 15118 Methode zur Erzeugung eines erweiterten Konformitätstests für Kommunikationsprotokolle am Beispiel der ISO 15118 [E-Book] Brosi, Frank 2019 E-Book URL Exists Catalogue Record .
3 Test digitaler Schaltkreise Test digitaler Schaltkreise [E-Book] Eggersglüß, Stephan 2014 E-Book URL Exists Catalogue Record .
4 Test und Verlässlichkeit von Rechnern Test und Verlässlichkeit von Rechnern [E-Book]   2007 E-Book URL Exists Catalogue Record .
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