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Nr. Cover Titel Verfasser Jahr Beschreibung Exemplarinformation
1 Moderne Mess- und Prüfverfahren für metallische und andere anorganische Überzüge: mit 23 Tabellen Moderne Mess- und Prüfverfahren für metallische und andere anorganische Überzüge: mit 23 Tabellen [Buch]   2007 Buch URL Exists Catalogue Record Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
2 Stress-induced phenomena in metallization: Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Austin, Texas, 14 - 16 June 2004 Stress-induced phenomena in metallization: Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Austin, Texas, 14 - 16 June 2004 [Buch]   2004 Reihenverknüpfung anzeigen für Katalogsatz 500103811500103811 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UQ 8000 H678.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
3 Thin films of Copper oxide and Copper grown by atomic layer deposition for applications in metallization systems of microelectronic devices Thin films of Copper oxide and Copper grown by atomic layer deposition for applications in metallization systems of microelectronic devices [Buch] Wächtler, Thomas 2010 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UP 7550 W126.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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