1 |
![CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test](Cover.cls?type=cover&isbn=9781402083631&size=100) |
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test [E-Book]
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2008 |
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![Creating Assertion-Based IP Creating Assertion-Based IP](Cover.cls?type=cover&isbn=9780387683980&size=100) |
Creating Assertion-Based IP [E-Book]
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2008 |
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3 |
![Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits](Cover.cls?type=cover&isbn=9780387465470&size=100) |
Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits [E-Book]
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2007 |
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4 |
![Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits](Cover.cls?type=cover&isbn=9780387257433&size=100) |
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits [E-Book]
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2005 |
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5 |
![](data:image/gif;base64,R0lGODlhAQABAIAAAAAAAP///yH5BAEAAAAALAAAAAABAAEAAAIBRAA7) |
Fehlerortungen: ihre Meßverfahren in Fernmelde- und Starkstromkabeln [Buch]
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Widl, Erwin
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1962 |
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Regalstandort: 62:247/1.
Lit.abteilungen: Magazin.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
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![Fehlerstrom-Überwachung in elektrischen Anlagen: Grundlagen, Anwendungen und Technik der Fehlerstrom-Überwachung durch Differenzstrommessung in Wechsel- und Gleichspannungssystemen Fehlerstrom-Überwachung in elektrischen Anlagen: Grundlagen, Anwendungen und Technik der Fehlerstrom-Überwachung durch Differenzstrommessung in Wechsel- und Gleichspannungssystemen](Cover.cls?type=cover&isbn=9783800722686&size=100) |
Fehlerstrom-Überwachung in elektrischen Anlagen: Grundlagen, Anwendungen und Technik der Fehlerstrom-Überwachung durch Differenzstrommessung in Wechsel- und Gleichspannungssystemen [Buch]
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Hofheinz, Wolfgang
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1998 |
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Regalstandort: ZN 4030 H711.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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7 |
![](data:image/gif;base64,R0lGODlhAQABAIAAAAAAAP///yH5BAEAAAAALAAAAAABAAEAAAIBRAA7) |
Fehlersuche in elektrischen Anlagen und Geräten [Buch]
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Eiselt, Josef
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1972 |
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Regalstandort: 4435/1.
Lit.abteilungen: Magazin.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
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8 |
![Fehlersuche in elektrischen Anlagen und Geräten: 12 Fehlersuchtabellen Fehlersuche in elektrischen Anlagen und Geräten: 12 Fehlersuchtabellen](Cover.cls?type=cover&isbn=9783790506112&size=100) |
Fehlersuche in elektrischen Anlagen und Geräten: 12 Fehlersuchtabellen [Buch]
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Eiselt, Josef
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1991 |
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Regalstandort: ZN 4030 E36(5).
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 3.
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9 |
![Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis, Correction and Repair Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis, Correction and Repair](Cover.cls?type=cover&isbn=9781402093654&size=100) |
Functional Design Errors in Digital Circuits: Diagnosis, Correction and Repair [E-Book]
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2009 |
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![Functional Verification Coverage Measurement and Analysis Functional Verification Coverage Measurement and Analysis](Cover.cls?type=cover&isbn=9781402080265&size=100) |
Functional Verification Coverage Measurement and Analysis [E-Book]
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Piziali, Andrew
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2008 |
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11 |
![](data:image/gif;base64,R0lGODlhAQABAIAAAAAAAP///yH5BAEAAAAALAAAAAABAAEAAAIBRAA7) |
Halbleitermesstechnik [Buch]
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Pfüller, Siegfried
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1976 |
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Regalstandort: 10 105/7.
Lit.abteilungen: Magazin.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
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12 |
![Halbleitermesstechnik Halbleitermesstechnik](Cover.cls?type=cover&isbn=9783778503881&size=100) |
Halbleitermesstechnik [Buch]
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Pfüller, Siegfried
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1977 |
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Regalstandort: ZN 4800 P531.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
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13 |
![Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen](Cover.cls?type=cover&isbn=9783778510070&size=100) |
Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen [Buch]
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Schaefer, Wolfgang
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1986 |
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Regalstandort: ZN 4030 S294.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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![Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization](Cover.cls?type=cover&isbn=9780387256245&size=100) |
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization [E-Book]
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2005 |
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![Meß- und Prüftechnik Meß- und Prüftechnik](Cover.cls?type=cover&isbn=9783540158783&size=100) |
Meß- und Prüftechnik [Buch]
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Zerbst, Manfred
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1986 |
500004712
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Regalstandort: ZQ 3100 Z58.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 4.
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16 |
![Methodische Fehlersuche in der Industrie-Elektronik: Fehlerortung durch zielbewußte Systematik und Logik ; mit 12 Tabellen Methodische Fehlersuche in der Industrie-Elektronik: Fehlerortung durch zielbewußte Systematik und Logik ; mit 12 Tabellen](Cover.cls?type=cover&isbn=9783772361425&size=100) |
Methodische Fehlersuche in der Industrie-Elektronik: Fehlerortung durch zielbewußte Systematik und Logik ; mit 12 Tabellen [Buch]
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Benda, Dietmar
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1990 |
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Regalstandort: ZN 4030 B458(4).
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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17 |
![New Methods of Concurrent Checking New Methods of Concurrent Checking](Cover.cls?type=cover&isbn=9781402084201&size=100) |
New Methods of Concurrent Checking [E-Book]
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2008 |
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![Produktprüfung und Konformitätsbewertung in Europa und weltweit: Vorträge der VDE-Fachtagung am 28. September 1995 Produktprüfung und Konformitätsbewertung in Europa und weltweit: Vorträge der VDE-Fachtagung am 28. September 1995](Cover.cls?type=cover&isbn=9783800721443&size=100) |
Produktprüfung und Konformitätsbewertung in Europa und weltweit: Vorträge der VDE-Fachtagung am 28. September 1995 [Buch]
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1995 |
500039899
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Regalstandort: ZG 9150 W279.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 2.
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19 |
![](data:image/gif;base64,R0lGODlhAQABAIAAAAAAAP///yH5BAEAAAAALAAAAAABAAEAAAIBRAA7) |
Prüftechnik für elektronische Erzeugnisse [Buch]
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Kärger, Reinhard
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1985 |
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Regalstandort: ZN 4030 K11.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 3.
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![Prüfung elektrischer Geräte: eine Prüfanweisung für elektrotechnisch unterwiesene Personen ; einschl. CD mit ausführlichen Informationen für alle Personen, die elektrische Geräte prüfen Prüfung elektrischer Geräte: eine Prüfanweisung für elektrotechnisch unterwiesene Personen ; einschl. CD mit ausführlichen Informationen für alle Personen, die elektrische Geräte prüfen](Cover.cls?type=cover&isbn=9783810102904&size=100) |
Prüfung elektrischer Geräte: eine Prüfanweisung für elektrotechnisch unterwiesene Personen ; einschl. CD mit ausführlichen Informationen für alle Personen, die elektrische Geräte prüfen [Buch mit CDR]
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Bödeker, Klaus
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2010 |
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Regalstandort: ZN 8950 B669(2).
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 3.
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