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Ihre Suche nach SEKUNDAERIONEN MASSENSPEKTROMETRIE ergibt 3 Einträge

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Nr. Cover Titel Verfasser Jahr Beschreibung Exemplarinformation
1 Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS: mit 29 Tabellen Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS: mit 29 Tabellen [Buch] Grasserbauer, Manfred 1986 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UP 7500 G768.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 6.
2 Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang [Buch] Düsterhöft, Heinz 1999 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UP 7500 D852.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
3 Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications [Buch] Fuchs, Ekkehard 1990 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UX 1380 F951.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
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