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Ihre Suche nach Zweigstelle: E8 ergibt 7 Einträge

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- Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung Beyerer, Jürgen Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung 1 -
Titel: Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
Verfasser: Beyerer, Jürgen
Jahr: 2012
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- Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung Beyerer, Jürgen Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung 2 -
Titel: Automatische Sichtprüfung: Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
Verfasser: Beyerer, Jürgen
Jahr: 2016
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- Machine Vision: Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications Beyerer, Jürgen Machine Vision: Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications 3 -
Titel: Machine Vision: Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications
Verfasser: Beyerer, Jürgen
Jahr: 2016
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- Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker Puente León, Fernando Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker 4 -
Titel: Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker
Verfasser: Puente León, Fernando
Jahr: 2011
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- Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker Puente León, Fernando Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker 5 -
Titel: Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker
Verfasser: Puente León, Fernando
Jahr: 2012
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- Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker Puente León, Fernando Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker 6 -
Titel: Messtechnik: Systemtheorie für Ingenieure und Informatiker
Verfasser: Puente León, Fernando
Jahr: 2015
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- Messtechnik: Grundlagen, Methoden und Anwendungen Puente León, Fernando Messtechnik: Grundlagen, Methoden und Anwendungen 7 -
Titel: Messtechnik: Grundlagen, Methoden und Anwendungen
Verfasser: Puente León, Fernando
Jahr: 2019
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