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Grasserbauer, Manfred ¬[VerfasserIn]¬ : Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen / M. Grasserbauer ; H. J. Dudek ; M. F. Ebel Berlin ; Heidelberg [u.a.] : Springer : $aBerlin ; Heidelberg [u.a.]$bSpringer$c1986 , 1986. - VIII, 300 Seiten : Illustrationen ; 25 cm () Literaturangaben ISBN 3-540-15050-1 ISBN 0-387-15050-1 Dudek, Hans J. ¬[VerfasserIn]¬ Ebel, Maria F. ¬[VerfasserIn]¬ SW: 20920477X Sekundärionen-Massenspektrometrie 209554681 Auger-Spektroskopie 209202904 Röntgen-Photoelektronenspektroskopie <500007574 - UP 7500 G768> ------------------------------ 00028597 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 00039695 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 00048279 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 00141777 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 00027863 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 00024626 Verfügbar in Hauptbibliothek Freihand UP 7500 G768 -----------------------------------------------
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