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Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
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Katalogdatensatz500402349
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LibraryThing
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Kataloginformation
Katalogdatensatz500402349
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
ISBN
978-3-031-40717-8
978-3-031-40719-2
978-3-031-40720-8
Name
Eremenko, Volodymyr ¬[HerausgeberIn]¬
Zaporozhets, Artur ¬[HerausgeberIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE
Zaporozhets, Artur ¬[HerausgeberIn]¬
T I T E L
Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
Auflage
1st ed. 2024.
Verlagsort
Cham
Cham
Verlag
Springer Nature Switzerland
Imprint: Springer
Erscheinungsjahr
2024
2024
2024
Umfang
1 Online-Ressource(IX, 277 p. 234 illus., 82 illus. in color.)
Reihe
Studies in Systems, Decision and Control ; 439
Titelhinweis
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40717-8
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40719-2
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40720-8
ISBN
ISBN 978-3-031-40718-5
Klassifikation
TBJ
TEC009000
620
Kurzbeschreibung
Preface -- Contents -- Metrological Support of Measurement Channels with Bridge Circuits -- Application of Exponential Splines in the Measurement and Control of Electric Circuit Parameters -- Improving of Methods of Impedance Parameters Units Reproduction and Measurement Accuracy Increasing for Ensuring Metrological Traceability -- Implementation of Information and Measurement Systems at the Base Specialized Internet Protocols -- Model of Information Signals Formation in the Diagnostics of Composite Products -- Theory and Practice of Ensuring the Validity in Testing Laboratories -- Methodology for Controlling Greenhouse Microclimate Parameters and Yield Forecast Using Neural Network Technologies.
2. Kurzbeschreibung
The book presents the main scientific directions and issues of research conducted in the Department of Information and Measurement Technologies at the National Technical University of Ukraine "Ihor Sikorskyi Kyiv Polytechnic Institute". The presented results cover almost all scientific directions related to information and measurement technologies—metrological support of measurement channels of information and measurement systems, methods of reproducing units of electric circuit parameters, development of specialized information and measurement systems, mathematical methods of processing measurement information, models of formation of information signals and fields, statistical diagnostic methods, information support of testing, and calibration laboratories.
SWB-Titel-Idn
1860530788
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttps://doi.org/10.1007/978-3-031-40718-5
Internetseite / Link
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