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Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I

Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
ISBN 978-3-031-40717-8
978-3-031-40719-2
978-3-031-40720-8
Name Eremenko, Volodymyr ¬[HerausgeberIn]¬
Zaporozhets, Artur ¬[HerausgeberIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE Zaporozhets, Artur ¬[HerausgeberIn]¬
T I T E L Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
Auflage 1st ed. 2024.
Verlagsort Cham
Cham
Verlag Springer Nature Switzerland
Imprint: Springer
Erscheinungsjahr 2024
2024
2024
Umfang 1 Online-Ressource(IX, 277 p. 234 illus., 82 illus. in color.)
Reihe Studies in Systems, Decision and Control ; 439
Titelhinweis Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40717-8
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40719-2
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-031-40720-8
ISBN ISBN 978-3-031-40718-5
Klassifikation TBJ
TEC009000
620
Kurzbeschreibung Preface -- Contents -- Metrological Support of Measurement Channels with Bridge Circuits -- Application of Exponential Splines in the Measurement and Control of Electric Circuit Parameters -- Improving of Methods of Impedance Parameters Units Reproduction and Measurement Accuracy Increasing for Ensuring Metrological Traceability -- Implementation of Information and Measurement Systems at the Base Specialized Internet Protocols -- Model of Information Signals Formation in the Diagnostics of Composite Products -- Theory and Practice of Ensuring the Validity in Testing Laboratories -- Methodology for Controlling Greenhouse Microclimate Parameters and Yield Forecast Using Neural Network Technologies.
2. Kurzbeschreibung The book presents the main scientific directions and issues of research conducted in the Department of Information and Measurement Technologies at the National Technical University of Ukraine "Ihor Sikorskyi Kyiv Polytechnic Institute". The presented results cover almost all scientific directions related to information and measurement technologies—metrological support of measurement channels of information and measurement systems, methods of reproducing units of electric circuit parameters, development of specialized information and measurement systems, mathematical methods of processing measurement information, models of formation of information signals and fields, statistical diagnostic methods, information support of testing, and calibration laboratories.
SWB-Titel-Idn 1860530788
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttps://doi.org/10.1007/978-3-031-40718-5
Internetseite / Link Resolving-System
Kataloginformation500402349 Datensatzanfang . Kataloginformation500402349 Seitenanfang .
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