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Data-Driven Fault Detection and Reasoning for Industrial Monitoring

Data-Driven Fault Detection and Reasoning for Industrial Monitoring
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 181725068X Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Wang, Jing: Data-driven fault detection and reasoning for industrial monitoring
ISBN 978-981-16-8043-4
978-981-16-8045-8
978-981-16-8046-5
Name Wang, Jing ¬[VerfasserIn]¬
Zhou, Jinglin ¬[VerfasserIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE Zhou, Jinglin ¬[VerfasserIn]¬
Name Chen, Xiaolu ¬[VerfasserIn]¬
T I T E L Data-Driven Fault Detection and Reasoning for Industrial Monitoring
Auflage 1st ed. 2022.
Verlagsort Singapore
Singapore
Verlag Springer Singapore
Imprint: Springer
Erscheinungsjahr 2022
2022
2022
Umfang 1 Online-Ressource(XVII, 264 p. 134 illus., 115 illus. in color.)
Reihe Intelligent Control and Learning Systems ; volume 3
Intelligent control and learning systems
Band volume 3
Notiz / Fußnoten Open Access
Titelhinweis Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-981-16-8043-4
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-981-16-8045-8
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-981-16-8046-5
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Wang, Jing: Data-driven fault detection and reasoning for industrial monitoring
ISBN ISBN 978-981-16-8044-1
Klassifikation TJFM1
TEC037000
TBM
629.892
629.8
Kurzbeschreibung Introduction -- Basic Statistical Fault Detection Problems -- Principal Component Analysis -- Canonical Variate Analysis -- Partial Least Squares Regression -- Fisher Discriminant Analysis -- Canonical Variate Analysis -- Fault Classification based on Local Linear Embedding -- Fault Classification based on Fisher Discriminant Analysis -- Quality-Related Global-Local Partial Least Square Projection Monitoring -- Locality-Preserving Partial Least-Squares Statistical Quality Monitoring -- Locally Linear Embedding Orthogonal Projection to Latent Structure (LLEPLS) -- Bayesian Causal Network for Discrete Systems -- Probability Causal Network for Continuous Systems -- Dual Robustness Projection to Latent Structure Method based on the L_1 Norm.
2. Kurzbeschreibung This open access book assesses the potential of data-driven methods in industrial process monitoring engineering. The process modeling, fault detection, classification, isolation, and reasoning are studied in detail. These methods can be used to improve the safety and reliability of industrial processes. Fault diagnosis, including fault detection and reasoning, has attracted engineers and scientists from various fields such as control, machinery, mathematics, and automation engineering. Combining the diagnosis algorithms and application cases, this book establishes a basic framework for this topic and implements various statistical analysis methods for process monitoring. This book is intended for senior undergraduate and graduate students who are interested in fault diagnosis technology, researchers investigating automation and industrial security, professional practitioners and engineers working on engineering modeling and data processing applications.
SWB-Titel-Idn 1785428977
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttps://doi.org/10.1007/978-981-16-8044-1
Internetseite / Link Resolving-System
Kataloginformation500321538 Datensatzanfang . Kataloginformation500321538 Seitenanfang .
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