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Heterodyne Laser-Interferometrie mittels phasengekoppelter Halbleiterlaser und Absorbanzmodulations-Nanoskopie für die Gigahertz-Schwingungsmesstechnik

Kataloginformation Katalogdatensatz500314603 .

Kataloginformation
Feldname	Details
Vorliegende Sprache	ger
Hinweise auf parallele Ausgaben	1752321154 Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Kowarsch, Robert: Heterodyne Laser-Interferometrie mittels phasengekoppelter Halbleiterlaser und Absorbanzmodulations-Nanoskopie für die Gigahertz-Schwingungsmesstechnik
ISBN	978-3-18-527008-6
Name	Kowarsch, Robert ¬[VerfasserIn]¬
T I T E L	Heterodyne Laser-Interferometrie mittels phasengekoppelter Halbleiterlaser und Absorbanzmodulations-Nanoskopie für die Gigahertz-Schwingungsmesstechnik
Verlagsort	Düsseldorf
Verlag	VDI Verlag
Erscheinungsjahr	[2021]
Erscheinungsjahr	2021
Umfang	1 Online-Ressource (182 Seiten)
Reihe	Fortschritt-Berichte VDI. Reihe 8, Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik ; Nr. 1270
Reihe	Fortschritt-Berichte VDI
Band	Nr. 1270
Hochschulschriftenvermerk	$bDissertation$cTechnische Universität Clausthal$d2020
Titelhinweis	Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Kowarsch, Robert: Heterodyne Laser-Interferometrie mittels phasengekoppelter Halbleiterlaser und Absorbanzmodulations-Nanoskopie für die Gigahertz-Schwingungsmesstechnik
ISBN	ISBN 978-3-18-627008-5 PDF
Klassifikation	1680
	620.20287
	620
Kurzbeschreibung	Die vorliegende Dissertation wendet sich an Ingenieure und Wissenschaftler im Bereich der optischen Schwingungsmesstechnik und hochauflösenden Mikroskopie (Nanoskopie). Sie befasst sich mit der Modellierung und Simulation von zwei zentralen Herausforderungen der Gerätetechnik der heterodynen Laser-Interferometrie für die Schwingungsmessung an Mikrosystemen bis zu 6 GHz. Zum einen wird die Auswirkung der Gigahertz-Trägererzeugung mittels phasengekoppelter Laser in einer optoelektronischen Phasenregelschleife auf die Auflösung für Schwingungsamplituden im Subpicometer-Bereich theoretisch untersucht und im Experiment demonstriert. Zum anderen wird mittels reversibel optisch schaltbarer Absorbanz in einer photochromen Dünnschicht ein Verfahren zur örtlichen Hochauflösung jenseits der Beugungsgrenze für die Reflexionsmikroskopie untersucht. Anhand der Erkenntnisse werden Näherungsformeln sowie Hinweise für die Anwendung gegeben. Symbolverzeichnis IX Kurzfassung XIX 1 Einleitung ...
1. Schlagwortkette	Mikrosystemtechnik
	Schallwelle
	Schwingungsmessung
	Vibrometer
	Heterodyninterferometrie
	Laserinterferometrie
	Halbleiterlaser
	Modenkopplung
ANZEIGE DER KETTE	Mikrosystemtechnik -- Schallwelle -- Schwingungsmessung -- Vibrometer -- Heterodyninterferometrie -- Laserinterferometrie -- Halbleiterlaser -- Modenkopplung
SWB-Titel-Idn	1750580896
Signatur	E-Book VDI
Bemerkungen	Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse	$uhttps://doi.org/10.51202/9783186270085
Internetseite / Link	Verlag
Siehe auch	Resolving-System

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