| Vorliegende Sprache |
ger |
| Hinweise auf parallele Ausgaben |
1045977160 Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Băjenescu, Titu I., 1938 - : Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme |
| ISBN |
978-3-658-22177-5 |
| Name |
Băjenescu, Titu I. ¬[VerfasserIn]¬ |
| Körperschaft |
Springer Fachmedien Wiesbaden ¬[Verlag]¬ |
| Springer Vieweg ¬[Verlag]¬ |
| T I T E L |
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme |
| Zusatz zum Titel |
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung |
| Verlagsort |
Wiesbaden ; [Heidelberg] |
| Verlag |
Imprint: Springer Vieweg |
| Erscheinungsjahr |
[2020] |
| 2020 |
| Umfang |
1 Online-Ressource (XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.) |
| Reihe |
Springer eBook Collection |
| Titelhinweis |
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-658-22177-5 |
| Erscheint auch als (Druck-Ausgabe): ‡Băjenescu, Titu I., 1938 - : Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme |
| ISBN |
ISBN 978-3-658-22178-2 |
| Klassifikation |
TJF |
| TEC008000 |
| 621.381 |
| ZN 4040 |
| ZN 4300 |
| Kurzbeschreibung |
Zuverlässigkeit einbauen -- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit -- Memristor, der Speicherwiderstand -- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen -- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente -- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen -- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen -- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren -- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten -- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen -- Ausfallanalyse. |
| 2. Kurzbeschreibung |
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. Der Inhalt Zuverlässigkeit einbauen - Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit - Memristor, der Speicherwiderstand - Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen - Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente - Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen - Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen - Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren - Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten - Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen – Ausfallanalyse Die Zielgruppen Ingenieure, Informatiker und Physiker in der Praxis Studierende der Elektrotechnik an Fachschulen, Fachhochschulen, höheren technischen Lehranstalten und technischen Universitäten Der Autor Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache. |
| 1. Schlagwortkette |
Elektronisches Bauelement |
| Zuverlässigkeit |
| ANZEIGE DER KETTE |
Elektronisches Bauelement -- Zuverlässigkeit |
| 2. Schlagwortkette |
Elektronisches Bauelement |
| Zuverlässigkeit |
| ANZEIGE DER KETTE |
Elektronisches Bauelement -- Zuverlässigkeit |
| SWB-Titel-Idn |
1689107464 |
| Signatur |
Springer E-Book |
| Bemerkungen |
Elektronischer Volltext - Campuslizenz |
| Elektronische Adresse |
$uhttps://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2 |
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