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Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements

Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
ISBN 978-3-319-77717-7
Name Zhuang, Yuming ¬[VerfasserIn]¬
Chen, Degang ¬[VerfasserIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE Chen, Degang ¬[VerfasserIn]¬
T I T E L Accurate and Robust Spectral Testing with Relaxed Instrumentation Requirements
Verlagsort Cham
Verlag Springer
Erscheinungsjahr 2018
2018
Umfang Online-Ressource (XIV, 170 p. 89 illus., 88 illus. in color, online resource)
Reihe SpringerLink. Bücher
Titelhinweis Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-319-77717-7
Printed editionISBN: 978-3-319-77717-7
ISBN ISBN 978-3-319-77718-4
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815
TK7888.4
Kurzbeschreibung This book introduces a family of new methods for accurate and robust spectral testing and fills an information gap, as the requirements in standard test have grown increasingly challenging in recent high precision testing, especially as the device performance has continued to improve. Test engineers will be enabled to accurately set their devices & systems at much simpler test setup, much reduced complexity and much lower cost
2. Kurzbeschreibung Chapter 1. Introduction -- Chapter 2.Algorithms for accurate spectral analysis in the presence of arbitrary non-coherency and large distortion -- Chapter 3.Accurate spectral testing with arbitrary non- coherency in sampling and simultaneous drifts in amplitude and frequency -- Chapter 4.High-purity sine wave generation using nonlinear DAC with pre-distortion based on low-cost accurate DAC-ADC co-testing -- Chapter 5.Low cost ultra-pure sine wave generation with self-calibration -- Chapter 6.Accurate spectral testing with non-coherent sampling for multi-tone test -- Chapter 7.Accurate spectral testing with impure test stimulus for multi-tone test -- Chapter 8.Multi-tone sine wave generation achieving the theoretical minimum of peak-to-average power ratio -- Chapter 9.Accurate linearity testing using low purity stimulus robust against flicker noise -- Chapter 10.Summary
SWB-Titel-Idn 504298569
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-77718-4
Internetseite / Link Volltext
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