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Semiconductor Power Devices: Physics, Characteristics, Reliability

Semiconductor Power Devices: Physics, Characteristics, Reliability
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
ISBN 978-3-319-70916-1
Name Lutz, Josef ¬[VerfasserIn]¬
Schlangenotto, Heinrich ¬[VerfasserIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE Schlangenotto, Heinrich ¬[VerfasserIn]¬
Name Scheuermann, Uwe ¬[VerfasserIn]¬
T I T E L Semiconductor Power Devices
Zusatz zum Titel Physics, Characteristics, Reliability
Auflage 2nd ed. 2018
Verlagsort Cham
Verlag Springer International Publishing
Erscheinungsjahr 2018
2018
Umfang Online-Ressource (XIX, 714 p. 480 illus., 132 illus. in color, online resource)
Reihe SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Titelhinweis Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-3-319-70916-1
ISBN ISBN 978-3-319-70917-8
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815
TK7888.4
Kurzbeschreibung Power Semiconductor Devices – Key Components for Efficient Electrical Energy Conversion Systems -- Semiconductor Properties -- pn-Junctions -- Short Introduction to Power Device Technology -- pin-Diodes -- Schottky Diodes -- Bipolar Transistors -- Thyristors -- MOS Transistors -- IGBTs -- Packaging and Reliability of Power Devices -- Destructive Mechanisms in Power Devices -- Power Device-Induced Oscillations and Electromagnetic Disturbances -- Power Electronic System Integration.
2. Kurzbeschreibung This book discusses semiconductor properties, pn-junctions and the physical phenomena for understanding power devices in depth. Working principles of state-of-the-art power diodes, thyristors, MOSFETs and IGBTs are explained in detail, as well as key aspects of semiconductor device production technology. Special peculiarities of devices from the ascending semiconductor materials SiC and GaN are discussed. This book presents significant improvements compared to its first edition. It includes chapters on packaging and reliability. The chapter on semiconductor technology is written in a more in-depth way by considering 2D- and high concentration effects. The chapter on IGBTs is extended by new technologies and evaluation of its potential. An extended theory of cosmic ray failures is presented. The range of certain important physical relationships, doubted in recent papers for use in device simulation, is cleared and substantiated in this second edition.
1. Schlagwortkette Leistungshalbleiter
ANZEIGE DER KETTE Leistungshalbleiter
SWB-Titel-Idn 500977380
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-70917-8
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Kataloginformation500273082 Datensatzanfang . Kataloginformation500273082 Seitenanfang .
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