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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
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LibraryThing
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Kataloginformation
Katalogdatensatz500268441
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
ISBN
978-981-10-7469-1
Name
Kaushik, Brajesh Kumar ¬[HerausgeberIn]¬
Dasgupta, Sudeb ¬[HerausgeberIn]¬
Name ANZEIGE DER KETTE
Dasgupta, Sudeb ¬[HerausgeberIn]¬
Name
Singh, Virendra ¬[HerausgeberIn]¬
T I T E L
VLSI Design and Test
Zusatz zum Titel
21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
Verlagsort
Singapore
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2017
2017
Umfang
Online-Ressource (XXI, 815 p. 486 illus, online resource)
Reihe
Communications in Computer and Information Science ; 711
Titelhinweis
Erscheint auch als (Druck-Ausgabe)ISBN: 978-981-10-7469-1
Printed editionISBN: 978-981-10-7469-1
ISBN
ISBN 978-981-10-7470-7
Klassifikation
UK
COM067000
004
QA75.5-76.95
TK7885-7895
Kurzbeschreibung
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification
2. Kurzbeschreibung
Digital design -- Analog/mixed signal -- VLSI testing -- Devices and technology -- VLSI architectures -- Emerging technologies and memory -- System design -- Low power design and test -- RF circuits -- Architecture and CAD -- Design verification
SWB-Titel-Idn
496908626
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-7470-7
Internetseite / Link
Volltext
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