Shortcuts
Top of page (Alt+0)
Page content (Alt+9)
Page menu (Alt+8)
Your browser does not support javascript, some WebOpac functionallity will not be available.
PageMenu
-
Hauptmenü
-
Suchmenü
Einfache Suche
.
Erweiterte Suche
.
Zeitschriften-Suche
.
Suchergebnisse verfeinern
.
Neuerwerbungsliste nach Gruppen
.
Sortierreihenfolge
.
Benutzerdienste
Nutzeranmeldung
.
Mein Konto
.
Erwerbungsvorschlag
.
Fernleihe
.
Vormerkung
.
Verlängerung
.
Weitere Recherchemöglichkeiten
Datenbankinfosystem (DBIS)
.
Karlsruher virtueller Katalog (KVK)
.
Regensburger Systematik (RVK)
.
Elektronische Zeitschriften (EZB)
.
Zeitschriftendatenbank (ZDB)
.
Sitzung beenden
Katalog verlassen
.
Homepage WHZ
.
Hochschulbibliothek
.
© LIBERO v6.4.1sp240211
Page content
Sie befinden sich hier
:
>
Benutzungsbedingungen akzeptieren
Katalogdatenanzeige
Katalogdatenanzeige
Circuit Design for Reliability
.
Bookmark für diesen Satz setzen
Katalogdatensatz500192389
.
.
Wikipedia-Verfasserlink
.
.
LibraryThing
.
Kataloginformation
Katalogdatensatz500192389
.
Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
ISBN
978-1-4614-4077-2
Name
Reis, Ricardo
Cao, Yu ¬[Hrsg.]¬
Name ANZEIGE DER KETTE
Cao, Yu ¬[Hrsg.]¬
Name
Wirth, Gilson ¬[Hrsg.]¬
T I T E L
Circuit Design for Reliability
Verlagsort
New York, NY
Verlag
Springer
Erscheinungsjahr
2015
2015
Umfang
Online-Ressource (VI, 272 p. 190 illus., 132 illus. in color, online resource)
Reihe
SpringerLink. Bücher
Titelhinweis
Druckausg.ISBN: 978-146-144-077-2
ISBN
ISBN 978-1-4614-4078-9
Klassifikation
TJFC
TEC008010
621.3815
TK7888.4
Kurzbeschreibung
This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management. Provides comprehensive review on various reliability mechanisms at sub-45nm nodes; Describes practical modeling and characterization techniques for reliability; Includes thorough presentation of robust design techniques for major VLSI design units; Promotes physical understanding with first-principle simulations
SWB-Titel-Idn
420319816
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4078-9
Internetseite / Link
Volltext
Siehe auch
Cover
.
ISBD-Anzeige
Katalogdatensatz500192389
.
Kategorien-Anzeige
Katalogdatensatz500192389
.
Verwandte Werke
Katalogdatensatz500192389
.
Titel zur Titelsammlung hinzufügen
Katalogdatensatz500192389
.
Kataloginformation500192389
Datensatzanfang
.
Kataloginformation500192389
Seitenanfang
.
Titel vormerken
Katalogdatensatz500192389
Vollanzeige Katalogdaten
Auf diesem Bildschirm erhalten Sie Katalog- und Exemplarinformationen zum ausgewählten Titel.
Im Bereich
Kataloginformation
werden die bibliographischen Details angezeigt. Per Klick auf Hyperlink-Begriffe wie Schlagwörter, Autoren, Reihen, Körperschaften und Klassifikationen können Sie sich weitere Titel des gewählten Begriffes anzeigen lassen.
Der Bereich
Exemplarinformationen
enthält zum einen Angaben über den Standort und die Verfügbarkeit der Exemplare. Zum anderen haben Sie die Möglichkeit, ausgeliehene Exemplare vorzumerken oder Exemplare aus dem Magazin zu bestellen.
Schnellsuche
Suche nach