- Hauptmenü-

Katalogdatenanzeige

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Kataloginformation Katalogdatensatz500177878 .

Kataloginformation
Feldname	Details
Vorliegende Sprache	eng
ISBN	978-1-4614-6162-3
Name	Maricau, Elie
Name	Gielen, Georges
ANZEIGE DER KETTE	Gielen, Georges
T I T E L	Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Verlagsort	New York, NY
Verlag	Springer
Erscheinungsjahr	2013
Erscheinungsjahr	2013
Umfang	Online-Ressource (XVI, 198 p. 95 illus., 27 illus. in color, digital)
Reihe	Analog Circuits and Signal Processing
Titelhinweis	Buchausg. u.d.T.ISBN: 978-1-461-46162-3
ISBN	ISBN 978-1-4614-6163-0
Klassifikation	TJFC
	TEC008010
	621.3815
	TK7888.4
SWB-Titel-Idn	37852013X
Signatur	Springer E-Book
Bemerkungen	Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse	$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Internetseite / Link	Volltext
Siehe auch	Cover

ISBD-Anzeige Katalogdatensatz500177878

Kategorien-Anzeige Katalogdatensatz500177878

Titel zur Titelsammlung hinzufügen Katalogdatensatz500177878

Kataloginformation500177878 Datensatzanfang . Kataloginformation500177878 Seitenanfang .

Titel vormerken Katalogdatensatz500177878

Vollanzeige Katalogdaten

Auf diesem Bildschirm erhalten Sie Katalog- und Exemplarinformationen zum ausgewählten Titel.

Im Bereich Kataloginformation werden die bibliographischen Details angezeigt. Per Klick auf Hyperlink-Begriffe wie Schlagwörter, Autoren, Reihen, Körperschaften und Klassifikationen können Sie sich weitere Titel des gewählten Begriffes anzeigen lassen.

Der Bereich Exemplarinformationen enthält zum einen Angaben über den Standort und die Verfügbarkeit der Exemplare. Zum anderen haben Sie die Möglichkeit, ausgeliehene Exemplare vorzumerken oder Exemplare aus dem Magazin zu bestellen.