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Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
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Kataloginformation
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ger
Hinweise auf parallele Ausgaben
9725765850 Online-Ausg.: ‡Rackwitz, Vanessa, 1983 - : Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
370588940 Erscheint auch als (Online-Ausgabe): ‡Rackwitz, Vanessa, 1983 - : Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
Name
Rackwitz, Vanessa
T I T E L
Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
Verlagsort
Berlin
Verlag
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Erscheinungsjahr
2012
2012
Umfang
163 S. : Ill., graph. Darst.
Format
24 cm
Reihe
BAM-Dissertationsreihe ; 81
BAM-Dissertationsreihe
Band
81
Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2012
Titelhinweis
Online-Ausg.: ‡Rackwitz, Vanessa, 1983 - : Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
Erscheint auch als (Online-Ausgabe): ‡Rackwitz, Vanessa, 1983 - : Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop
ISBN
ISBN 978-3-9814634-4-6 Pb. : EUR 22.00 (DE), EUR 22.70 (AT)
Klassifikation
530
UM 2280
1. Schlagwortkette
Röntgenfluoreszenzspektroskopie
Rasterelektronenmikroskopie
ANZEIGE DER KETTE
Röntgenfluoreszenzspektroskopie -- Rasterelektronenmikroskopie
SWB-Titel-Idn
365283401
Signatur
80 845
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00370171
UM 2280 R122
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