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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 45501082X Buchausg. u.d.T.: ‡Tan, Cher Ming: Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
ISBN 978-0-85729-309-1
Name Tan, Cher Ming
Li, Wei
ANZEIGE DER KETTE Li, Wei
Name Gan, Zhenghao
Hou, Yuejin
T I T E L Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Auflage 1
Verlagsort London
Verlag Springer-Verlag London Limited
Erscheinungsjahr 2011
2011
Umfang Online-Ressource (VII, 150p. 99 illus., 10 illus. in color, digital)
Reihe Springer Series in Reliability Engineering
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections; Contents; 1 Introduction; 2 Development of Physics-Based Modeling for ULSI Interconnections Failure Mechanisms: Electromigration and Stress-Induced Voiding; 3 Introduction and General Theory of Finite Element Method; 4 Finite Element Method for Electromigration Study; 5 Finite Element Method for Stress-Induced Voiding; 6 Finite Element Method for Dielectric Reliability; Index
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Tan, Cher Ming: Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
ISBN ISBN 978-0-85729-310-7
Klassifikation TGPR
TEC032000
*00A69
00A71
65Z99
70Q05
74S05
76M10
93C95
658.56
621.395
TA169.7
T55-T55.3
TA403.6
ZN 4952
ZN 4040
Kurzbeschreibung Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability. Over the past two decades the application of FEMs has become widespread and continues to lead to a much better understanding of reliability physics. To help readers cope with the increasing sophistication of FEMs' applications to interconnect reliability, Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections will: introduce the principle of FEMs,review numerical modeling of ULSI interconnect reliability,describe the physical mechanism of ULSI interconnect reliability encountered in the electronics industry, anddiscuss in detail the use of FEMs to understand and improve ULSI interconnect reliability from both the physical and practical perspective, incorporating the Monte Carlo method.A full-scale review of the numerical modeling methodology used in the study of interconnect reliability highlights useful and noteworthy techniques that have been developed recently. Many illustrations are used throughout the book to improve the reader's understanding of the methodology and its verification. Actual experimental results and micrographs on ULSI interconnects are also included. Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections is a good reference for researchers who are working on interconnect reliability modeling, as well as for those who want to know more about FEMs for reliability applications. It gives readers a thorough understanding of the applications of FEM to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.
1. Schlagwortkette ULSI
Reliabilität
Finite-Elemente-Methode
ANZEIGE DER KETTE ULSI -- Reliabilität -- Finite-Elemente-Methode
SWB-Titel-Idn 339789263
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-310-7
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Inhaltsverzeichnis
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