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Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability
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Kataloginformation
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Hinweise auf parallele Ausgaben
279525001 Buchausg. u.d.T.: ‡Emerging nanotechnologies
ISBN
978-0-387-74746-0
Name
Tehranipoor, Mohammad
T I T E L
Emerging Nanotechnologies
Zusatz zum Titel
Test, Defect Tolerance, and Reliability
Verlagsort
Boston, MA
Verlag
Springer Science+Business Media, LLC
Erscheinungsjahr
2008
2008
Umfang
Online-Ressource (digital)
Reihe
Frontiers in Electronic Testing ; 37
Notiz / Fußnoten
Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt
Front Matter; Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits; Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics; Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices; A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology; Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures; Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design; Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems; QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing. Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular AutomataTest Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems; Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips; Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields; Towards Nanoelectronics Processor Architectures; Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems; Back Matter
Titelhinweis
Buchausg. u.d.T.: ‡Emerging nanotechnologies
ISBN
ISBN 978-0-387-74747-7
Klassifikation
TJFC
TEC008010
621.3815
620.5
620
TK7888.4
ZN 3700
Kurzbeschreibung
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality. Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
1. Schlagwortkette
Nanotechnologie
Nanoelektronik
Biochip
Mikrofluidik
Zellularer Automat
Nanometerbereich
ANZEIGE DER KETTE
Nanotechnologie -- Nanoelektronik -- Biochip -- Mikrofluidik -- Zellularer Automat -- Nanometerbereich
2. Schlagwortkette
Nanotechnologie
Nanoelektronik
Biochip
Mikrofluidik
Zellularer Automat
Nanometerbereich
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SWB-Titel-Idn
28057584X
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Internetseite / Link
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Inhaltsverzeichnis
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Kapitel 1
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