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Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach
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Kataloginformation
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Hinweise auf parallele Ausgaben
272348694 Buchausg. u.d.T.: ‡Orshansky, Michael: Design for manufacturability and statistical design
ISBN
978-0-387-30928-6
Name
Orshansky, Michael
Boning, Duane
Name ANZEIGE DER KETTE
Boning, Duane
Name
Nassif, Sani R.
T I T E L
Design for Manufacturability and Statistical Design
Zusatz zum Titel
A Constructive Approach
Verlagsort
Boston, MA
Verlag
Springer Science+Business Media, LLC
Erscheinungsjahr
2008
2008
Umfang
Online-Ressource (digital)
Reihe
SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten
Includes bibliographical references and index
Titelhinweis
Buchausg. u.d.T.: ‡Orshansky, Michael: Design for manufacturability and statistical design
ISBN
ISBN 978-0-387-69011-7
Klassifikation
TJFC
TEC008010
621.3815
670
TK7888.4
ZN 4900
Kurzbeschreibung
Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach provides a thorough treatment of the causes of variability, methods for statistical data characterization, and techniques for modeling, analysis, and optimization of integrated circuits to improve yield. The objective of the constructive approach developed in this book is to formulate a consistent set of methods and principles necessary for rigorous statistical design and design for manufacturability from device physics to large-scale circuit optimization. The segments of the book are devoted, respectively, to understanding the causes of variability, design of test structures for variability characterization, statistically rigorous data analysis, techniques of design for manufacturability in lithography and in chemical mechanical polishing, statistical simulation, analysis, and optimization techniques for improving parametric yield. Design for Manufacturability and Statistical Design: A Constructive Approach presents an overview of the methods that need to be mastered for state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies. It is an important reference for practitioners and students in the field of computer-aided design of integrated circuits.
1. Schlagwortkette
CMOS
Integrierte Schaltung
Fertigung
Fertigungsmesstechnik
ANZEIGE DER KETTE
CMOS -- Integrierte Schaltung -- Fertigung -- Fertigungsmesstechnik
2. Schlagwortkette
CMOS
Integrierte Schaltung
Fertigung
Fertigungsmesstechnik
ANZEIGE DER KETTE
CMOS -- Integrierte Schaltung -- Fertigung -- Fertigungsmesstechnik
SWB-Titel-Idn
276330854
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-69011-7
Internetseite / Link
Volltext
Siehe auch
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Cover
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Inhaltsverzeichnis
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Kapitel 1
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Einführung/Vorwort
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