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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS

Kataloginformation Katalogdatensatz500121384 .

Kataloginformation
Feldname	Details
Vorliegende Sprache	eng
Hinweise auf parallele Ausgaben	273570250 Buchausg. u.d.T.: ‡Chiang, Charles C: Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
ISBN	978-1-4020-5187-6
Name	Chiang, Charles C
Name	Kawa, Jamil
Name ANZEIGE DER KETTE	Kawa, Jamil
T I T E L	Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Verlagsort	Dordrecht
Verlag	Springer Netherlands
Erscheinungsjahr	2007
Erscheinungsjahr	2007
Umfang	Online-Ressource (digital)
Reihe	Series on Integrated Circuits and Systems
Titelhinweis	Buchausg. u.d.T.: ‡Chiang, Charles C: Design for manufacturability and yield for nano-scale CMOS
ISBN	ISBN 978-1-4020-5188-3
Klassifikation	TJFC
	TEC008010
	621.3815
	TK7888.4
	ZN 4960
1. Schlagwortkette	Entwurfsautomation
	CMOS-Schaltung
	Nanometerbereich
	Fotolithografie <Halbleitertechnologie>
	Ertragssteigerung
	Online-Publikation
ANZEIGE DER KETTE	Entwurfsautomation -- CMOS-Schaltung -- Nanometerbereich -- Fotolithografie -- Ertragssteigerung -- Online-Publikation
SWB-Titel-Idn	267485042
Signatur	Springer E-Book
Bemerkungen	Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse	$uhttp://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Internetseite / Link	Volltext
Siehe auch	Cover

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