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Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for low emission and susceptibility
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Kataloginformation
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Hinweise auf parallele Ausgaben
251896781 Buchausg. u.d.T.: ‡Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
ISBN
978-0-387-26600-8
Name
Ben Dhia, Sonia
Ramdani, Mohamed
Name ANZEIGE DER KETTE
Ramdani, Mohamed
Name
Sicard, Etienne
T I T E L
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
Zusatz zum Titel
Techniques for low emission and susceptibility
Verlagsort
Boston, MA
Verlag
Springer Science+Business Media, Inc
Erscheinungsjahr
2006
2006
Umfang
Online-Ressource (XIV, 474p. 464 illus, digital)
Reihe
SpringerLink. Bücher
Notiz / Fußnoten
Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt
Basic Concepts in EMC for ICs; Historical Review and State-of-the art; Fundamentals and Theory; Measurement Methods; EMC Modeling; Case Studies; Guidelines
Titelhinweis
Buchausg. u.d.T.: ‡Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
ISBN
ISBN 978-0-387-26601-5
Klassifikation
TEC030000
TJFN
TEC024000
621.3
621.38224
621.382/24
530
TK7876-7876.42
ZN 4050
Kurzbeschreibung
Basic Concepts in EMC for ICs -- Historical Review and State-of-the art -- Fundamentals and Theory -- Measurement Methods -- EMC Modeling -- Case Studies -- Guidelines.
2. Kurzbeschreibung
Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for Low Emission and Susceptibility focuses on the electromagnetic compatibility of integrated circuits. The basic concepts, theory, and an extensive historical review of integrated circuit emission and susceptibility are provided. Standardized measurement methods are detailed through various case studies. EMC models for the core, I/Os, supply network, and packaging are described with applications to conducted switching noise, signal integrity, near-field and radiated noise. Case studies from different companies and research laboratories are presented with in-depth descriptions of the ICs, test set-ups, and comparisons between measurements and simulations. Specific guidelines for achieving low emission and susceptibility derived from the experience of EMC experts are presented.
1. Schlagwortkette
Elektromagnetische Verträglichkeit
Integrierte Schaltung
SWB-Titel-Idn
264333969
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/b137864
Internetseite / Link
Volltext
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Volltext
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Kapitel 2
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