Shortcuts
Top of page (Alt+0)
Page content (Alt+9)
Page menu (Alt+8)
Your browser does not support javascript, some WebOpac functionallity will not be available.
PageMenu
-
Hauptmenü
-
Suchmenü
Einfache Suche
.
Erweiterte Suche
.
Zeitschriften-Suche
.
Suchergebnisse verfeinern
.
Neuerwerbungsliste nach Gruppen
.
Sortierreihenfolge
.
Benutzerdienste
Nutzeranmeldung
.
Mein Konto
.
Erwerbungsvorschlag
.
Fernleihe
.
Vormerkung
.
Verlängerung
.
Weitere Recherchemöglichkeiten
Datenbankinfosystem (DBIS)
.
Karlsruher virtueller Katalog (KVK)
.
Regensburger Systematik (RVK)
.
Elektronische Zeitschriften (EZB)
.
Zeitschriftendatenbank (ZDB)
.
Sitzung beenden
Katalog verlassen
.
Homepage WHZ
.
Hochschulbibliothek
.
© LIBERO v6.4.1sp240211
Page content
Sie befinden sich hier
:
Katalogdatenanzeige
Katalogdatenanzeige
Data Mining and Diagnosing IC Fails
.
Bookmark für diesen Satz setzen
Katalogdatensatz500114148
.
.
LibraryThing
.
Kataloginformation
Katalogdatensatz500114148
.
Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Hinweise auf parallele Ausgaben
120751682 Buchausg. u.d.T.: ‡Huisman, Leendert M.: Data mining and diagnosing IC fails
ISBN
978-0-387-24993-3
Name
Huisman, Leendert M.
T I T E L
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Verlagsort
Boston, MA
Verlag
Springer Science+Business Media, Inc
Erscheinungsjahr
2005
2005
Umfang
Online-Ressource (XIX, 250 p, digital)
Reihe
Frontiers in Electronic Testing ; 31
Notiz / Fußnoten
Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt
Preliminary; Statistics; Yield Statistics; Statistics of Embedded Object Fails; Fail Commonalities; Spatial Patterns; Test Coverage and Test Fallout; Logic Diagnosis; Introduction; SLAT based Diagnosis; Data Collection Requirements; Back matter; Area Dependence of the Yield
Titelhinweis
Buchausg. u.d.T.: ‡Huisman, Leendert M.: Data mining and diagnosing IC fails
ISBN
ISBN 978-0-387-26351-9
Klassifikation
*68-01
68M99
TJFC
TEC008010
621.3815/48
621.3815
620
TK7888.4
Kurzbeschreibung
Datamining and Diagnosing Integrated Circuit Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) Integrated Circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. Datamining and Diagnosing Integrated Circuit Fails begins with a discussion of sort codes and yield analysis. It then discusses various data mining techniques centered on fail syndrome commonalities and the statistics of embedded object fails. It gives a thorough discussion of the area dependence of the yield and of the recognition of spatial patterns of failing die or embedded objects. Next, it gives a detailed analysis of the relationship between defect coverage and yield. It ends with a description of state of the art logic diagnosis techniques. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that profession manufacturing engineers can implement them in their own work environment. There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. There is a clear need for a single source for all these analysis techniques, suitable for professional IC manufacturing and test engineers.
1. Schlagwortkette
Integrierte Schaltung
Funktionstest
Fehlererkennung
Data Mining
ANZEIGE DER KETTE
Integrierte Schaltung -- Funktionstest -- Fehlererkennung -- Data Mining
2. Schlagwortkette
Integrierte Schaltung
Funktionstest
Fehlererkennung
Data Mining
ANZEIGE DER KETTE
Integrierte Schaltung -- Funktionstest -- Fehlererkennung -- Data Mining
SWB-Titel-Idn
264333837
Signatur
Springer E-Book
Bemerkungen
Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse
$uhttp://dx.doi.org/10.1007/b137446
Internetseite / Link
Volltext
Siehe auch
Volltext
Siehe auch
Kapitel
Siehe auch
Inhaltstext
Siehe auch
Cover
Siehe auch
Inhaltstext
.
ISBD-Anzeige
Katalogdatensatz500114148
.
Kategorien-Anzeige
Katalogdatensatz500114148
.
Verwandte Werke
Katalogdatensatz500114148
.
Titel zur Titelsammlung hinzufügen
Katalogdatensatz500114148
.
Kataloginformation500114148
Datensatzanfang
.
Kataloginformation500114148
Seitenanfang
.
Titel vormerken
Katalogdatensatz500114148
Vollanzeige Katalogdaten
Auf diesem Bildschirm erhalten Sie Katalog- und Exemplarinformationen zum ausgewählten Titel.
Im Bereich
Kataloginformation
werden die bibliographischen Details angezeigt. Per Klick auf Hyperlink-Begriffe wie Schlagwörter, Autoren, Reihen, Körperschaften und Klassifikationen können Sie sich weitere Titel des gewählten Begriffes anzeigen lassen.
Der Bereich
Exemplarinformationen
enthält zum einen Angaben über den Standort und die Verfügbarkeit der Exemplare. Zum anderen haben Sie die Möglichkeit, ausgeliehene Exemplare vorzumerken oder Exemplare aus dem Magazin zu bestellen.
Schnellsuche
Suche nach