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Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters

Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 121408779 Buchausg. u.d.T.: ‡Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters
ISBN 978-0-387-25902-4
Name Dallet, Dominique
Silva, José Machado
Name ANZEIGE DER KETTE Silva, José Machado
T I T E L Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
Verlagsort Boston, MA
Verlag Springer US
Erscheinungsjahr 2005
2005
Umfang Online-Ressource (XX, 280 p, digital)
Reihe ¬The¬ International Series in Engineering and Computer Science, Analog Circuits and Signal Processing ; 860
Notiz / Fußnoten "Outcome of the project DYNAD"--Preface
Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt Preliminaries; Contents; ADC Applications, Architectures and Terminology; Sinewave Test Setup; Time-Domain Data Analysis; Frequency-Domain Data Analysis; Code Histogram Test; Comparative Study of ADC Sinewave Test Methods; Jitter Measurement; Differential Gain and Phase Testing; Step and Transient Response Measurement; Hysteresis Measurement; References; Index
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters
ISBN ISBN 978-0-387-25903-1
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815322
621.3815
004
TK7888.4
ZN 5660
Kurzbeschreibung The Analogue-to-digital converter (ADC) is the most pervasive block in electronic systems. With the advent of powerful digital signal processing and digital communication techniques, ADCs are fast becoming critical components for system's performance and flexibility. Knowing accurately all the parameters that characterise their dynamic behaviour is crucial, on one hand to select the most adequate ADC architecture and characteristics for each end application, and on the other hand, to understand how they affect performance bottlenecks in the signal processing chain. Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters presents a state of the art overview of the methods and procedures employed for characterising ADCs' dynamic performance behaviour using sinusoidal stimuli. The three classical methods - histogram, sine wave fitting, and spectral analysis - are thoroughly described, and new approaches are proposed to circumvent some of their limitations. This is a must-have compendium, which can be used by both academics and test professionals to understand the fundamental mathematics underlining the algorithms of ADC testing, and as an handbook to help the engineer in the most important and critical details for their implementation.
1. Schlagwortkette Analog-Digital-Umsetzer
Dynamische Analyse
ANZEIGE DER KETTE Analog-Digital-Umsetzer -- Dynamische Analyse
2. Schlagwortkette Analog-Digital-Umsetzer
Dynamische Analyse
ANZEIGE DER KETTE Analog-Digital-Umsetzer -- Dynamische Analyse
SWB-Titel-Idn 264333527
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/b136458
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Kapitel 2
Siehe auch Cover
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