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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Kataloginformation
Feldname Details
Vorliegende Sprache eng
Hinweise auf parallele Ausgaben 12050443X Buchausg. u.d.T.: ‡Kabisatpathy, Prithviraj: Fault diagnosis of analog integrated circuits
ISBN 978-0-387-25742-6
Name Kabisatpathy, Prithviraj
Barua, Alok
Name ANZEIGE DER KETTE Barua, Alok
Name Sinha, Satyabroto
T I T E L Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Verlagsort Boston, MA
Verlag Springer US
Erscheinungsjahr 2005
2005
Umfang Online-Ressource (IX, 182 p, digital)
Reihe Frontiers in Electronic Testing ; 30
Notiz / Fußnoten Includes bibliographical references and index
Weiterer Inhalt Introduction; Fault and Fault Modelling; Test Stimulus Generation; Fault Diagnosis Methodology; Design for Testability and Built-In Self-Test
Titelhinweis Buchausg. u.d.T.: ‡Kabisatpathy, Prithviraj: Fault diagnosis of analog integrated circuits
ISBN ISBN 978-0-387-25743-3
Klassifikation TJFC
TEC008010
621.3815
TK7888.4
ZN 4030
Kurzbeschreibung Enables the reader to test an analog circuit that is implemented either in bipolar or MOS technology.Examinesthe testing and fault diagnosis of analog and analog part of mixed signal circuits. Covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits and introduces .Also contains problems that can be used as quiz or homework.
2. Kurzbeschreibung System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast, methodologies for the testing of analog circuits remain relatively underdeveloped due to the complex nature of analog signals. Compared to digital testing, analog testing lags far behind in methodologies and tools and therefore demands substantial research and development effort.Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits is a textbook for advanced undergraduate and graduate level students as well as practicing engineers. The objective of this book is to study the testing and fault diagnosis of analog and analog part of mixed signal circuits. A background in analog integrated circuit, artificial neural network is desirable but not essential.The text covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits. Fault model of the devices in analog domain has been introduced in the text. The test stimulus generations are also discussed in details. Experimental verification of some state of the art techniques has also been presented in the book. It also contains problems that can be used as quiz or homework. This book enables the reader to test an analog circuit that is implemented either in bipolar or MOS technology.
1. Schlagwortkette Integrierte Schaltung
Analogschaltung
Fehlersuche
ANZEIGE DER KETTE Integrierte Schaltung -- Analogschaltung -- Fehlersuche
2. Schlagwortkette Analoge integrierte Schaltung
ANZEIGE DER KETTE Analoge integrierte Schaltung
3. Schlagwortkette Fehlererkennung
ANZEIGE DER KETTE Fehlererkennung
SWB-Titel-Idn 264333330
Signatur Springer E-Book
Bemerkungen Elektronischer Volltext - Campuslizenz
Elektronische Adresse $uhttp://dx.doi.org/10.1007/b135977
Internetseite / Link Volltext
Siehe auch Volltext
Siehe auch Kapitel 2
Siehe auch Inhaltstext
Siehe auch Cover
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