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Particle beam microanalysis: fundamentals, methods and applications
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Exemplarinformationen
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Kataloginformation
Katalogdatensatz500016879
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Name
Fuchs, Ekkehard
Oppolzer, Helmut
ANZEIGE DER KETTE
Oppolzer, Helmut
Name
Rehme, Hans
T I T E L
Particle beam microanalysis
Zusatz zum Titel
fundamentals, methods and applications
Verlagsort
Weinheim [u.a.]
Verlag
VCH
Erscheinungsjahr
1990
1990
Umfang
XVIII, 507 S. : Ill., graph. Darst.
Notiz / Fußnoten
Literaturangaben
ISBN
ISBN 3-527-26884-7
ISBN 0-89573-505-9
Klassifikation
620.1/127
29
30
UX 1380
UH 6200
1. Schlagwortkette
Sekundärionen-Massenspektrometrie
1. Schlagwortkette ANZEIGE DER KETTE
Sekundärionen-Massenspektrometrie
2. Schlagwortkette
Elektronenmikroskopie
2. Schlagwortkette ANZEIGE DER KETTE
Elektronenmikroskopie
3. Schlagwortkette
Elektronenstrahltesten
3. Schlagwortkette ANZEIGE DER KETTE
Elektronenstrahltesten
4. Schlagwortkette
Elektronenstrahlmikroanalyse
4. Schlagwortkette ANZEIGE DER KETTE
Elektronenstrahlmikroanalyse
5. Schlagwortkette
Sekundärionen-Massenspektrometrie
ANZEIGE DER KETTE
Sekundärionen-Massenspektrometrie
6. Schlagwortkette
Elektronenmikroskopie
ANZEIGE DER KETTE
Elektronenmikroskopie
7. Schlagwortkette
Elektronenstrahltesten
ANZEIGE DER KETTE
Elektronenstrahltesten
8. Schlagwortkette
Elektronenstrahlmikroanalyse
ANZEIGE DER KETTE
Elektronenstrahlmikroanalyse
SWB-Titel-Idn
023275324
Signatur
33 446
UX 1380 F951
Bemerkungen
Sei
Internetseite / Link
Inhaltsverzeichnis
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Verwandte Werke
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Datensatzanfang
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Seitenanfang
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Exemplarinformationen
Barcode
Regalstandort
Literaturabteilung
Bandzählg.
Zweigstelle
Status
Fälligkeitsdat.
00014532
UX 1380 F951
Freihand
Hauptbibliothek
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Verfügbar
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