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Electron microscopy and analysis: proceedings of The Institute of Physics Electon Microscopy and Analysis Group conference held at the University of Sussex, Brighton, 3 - 6 September 1979 (EMAG 79)
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Exemplarinformationen
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Kataloginformation
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Kataloginformation
Feldname
Details
Vorliegende Sprache
eng
Name
Mulvey, Thomas ¬[Hrsg.]¬
Körperschaft
Institute of Physics <London> / Electron Microscopy and Analysis Group
Institute of Physics <London> / Electron Microscopy and Analysis Group
T I T E L
Electron microscopy and analysis
Zusatz zum Titel
proceedings of The Institute of Physics Electon Microscopy and Analysis Group conference held at the University of Sussex, Brighton, 3 - 6 September 1979 (EMAG 79)
Weitere Titel
EMAG 79
EMAG 79
Verlagsort
Bristol [u.a.]
Verlag
Institute of Physics
Erscheinungsjahr
1980
1980
Umfang
XV, 472 S : Ill., graph. Darst
Reihe
Conference Series / The Institute of Physics ; 52
Conference series / Institute of Physics
Band
52
ISBN
ISBN 0-85498-143-8
Klassifikation
502.8
502/.8/25
1. Schlagwortkette
Elektronenmikroskopie
Elektronenstrahlmikroanalyse
Kongreß
ANZEIGE DER KETTE
Elektronenmikroskopie -- Elektronenstrahlmikroanalyse -- Kongreß
SWB-Titel-Idn
011311320
Signatur
17 201
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Exemplarinformationen
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Literaturabteilung
Bandzählg.
Zweigstelle
Status
Fälligkeitsdat.
00149109
17 201/1
Magazin
Hauptbibliothek
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