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Nr. Cover Titel Verfasser Jahr Beschreibung Exemplarinformation
1 Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang Einführung in die Sekundärionenmassenspektrometrie -SIMS- mit Tabellen und einem umfangreichen Anhang [Buch] Düsterhöft, Heinz 1999 Buch URL Exists Catalogue Record Regalstandort: UP 7500 D852.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 1.
2 Experimentelle Baumechanik: Meß- und Belastungstechnik, Modell- und Originalversuche, In-situ-Versuche Experimentelle Baumechanik: Meß- und Belastungstechnik, Modell- und Originalversuche, In-situ-Versuche [Buch]   1993 Buch Regalstandort: ZI 3200 Q1.
Lit.abteilungen: Freihand.
Verfügbar in: Hauptbibliothek.
Anzahl Exemplare: 3.
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